一、產品介紹

低溫低氣壓振動綜合試驗箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產單位提供溫濕度變化環(huán)境，同時可在試驗箱內將電振動應力按規(guī)定的周期施加到試品上，供用戶對整機（或部件）、電器、儀器、材料等作溫濕度、低氣壓、振動綜合應力篩選試驗，以便考核試品的適應性或對試品的行為作出評價。與單一因素作用相比，更能真實地反映電工電子產品在運輸和實際使用過程中對溫濕度、低氣壓及振動復合環(huán)境變化的適應性，暴露產品的缺陷，是新產品研制、樣機試驗、產品合格鑒定試驗全過程不可少的重要試驗手段。

二、產品特點

◆采用SUS304鏡面不銹鋼內膽材料;

◆釆用鋼板表面噴塑外殼,造型新穎,美觀大方;

◆ 同一環(huán)境中,同時實現(xiàn)高低溫度快速交變,濕度交變，溫度氣壓交變，溫度濕度振動結合，溫度氣壓振動結合

◆制冷.電控關鍵配件均為國際品牌;

◆ 內箱材質:SUS#304 耐熱耐寒不銹鋼板,經(jīng)鏡面處理;

◆可根據(jù)用戶要求選配不同型號的振動臺，保證冷、熱、氣密封的同時，振動臺具有良好的力學傳處特性:

◆制冷壓縮機組及主要配件均為法國泰康、美國比澤爾或德國博客，選用7寸LCD彩色液晶觸摸屏控制器，溫、濕度程序自動控制，配有R232通訊接口。

產品環(huán)境箱尺寸：

型號                DR-H208-225      DR-H208-408       DR-H208-800      DR-H208-1000

內部尺寸(mm) 500*750*600       600*850*800      1000*1000*800    1000*1000*1000

性能指標 高溫范圍 150℃/200℃(特殊選購)

低溫范圍 A:0℃/B: -20℃/C:-40℃/D:-70℃(特殊選購)

濕度范圍 20~98%R.H(10%~98%R.H:5%~98%R.H為選購項目，需要加除濕機)

氣壓范圍 133kpa~常壓

升溫速率 1.0-4.0℃/min:5℃-15℃/min(特殊選購)

降溫速率 0.7-1.2℃/min:5℃℃-15℃/min(特殊選購)

溫度波動 士0.5℃

濕度波動 士2.0%R.H

溫度偏差 ±2℃

濕度偏差 士3.0%R.H

激振力 請參考電磁振動測試系統(tǒng)選型技術指標

低溫低氣壓振動綜合試驗箱

溫度濕度低氣壓振動綜合試驗箱

GB/T 2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A： 低溫

GB/T 2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GB/T 2423.10-2019電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc: 振動(正弦)

GB/T 2423.21-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓

GB/T 2423.27-2020電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗

GB/T 2423.35-2019電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗和導則 氣候(溫度、濕度)和動力學(振動、沖擊)綜合試驗

GB/T 2423.43-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝

GB/T 2423.48-2018電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ff:振動 時間歷程和正弦拍頻法

GB/T 2423.56-2018電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動和導則

GB/T 2423.58-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2-80部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式

GB/T 2423.59-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合

GB/T 2423.63-2019電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合

GB/T 2423.102-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合  

GB/T 12085.10-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗

GB/T 12085.15-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分：寬帶隨機振動(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗

GB/T 12085.19-2011光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第19部分：溫度周期與正弦振動、隨機振動綜合試驗

GB/T 12085.22-2022光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第22部分: 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗

GB/T 18328.1-2009振動發(fā)生設備選擇指南 第1部分：環(huán)境試驗設備

GB/T 2424.26-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第3部分：支持文件和導則 振動試驗選擇

GB/T 32065.14-2019海洋儀器環(huán)境試驗方法 第14部分:振動試驗

GB/T 38924.6-2020民用輕小型無人機系統(tǒng)環(huán)境試驗方法 第6部分：振動試驗

GB/T 5170.13-2018環(huán)境試驗設備檢驗方法 第13部分：振動(正弦)試驗用機械式振動系統(tǒng)

GB/T 5170.14-2009環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢驗方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺

GB/T 5170.15-2018環(huán)境試驗設備檢驗方法 第15部分：振動(正弦)試驗用液壓式振動系統(tǒng)

GB/T 5170.19-2018環(huán)境試驗設備檢驗方法 第19部分：溫度、振動(正弦)綜合試驗設備

GB/T 5170.21-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢驗方法 振動(隨機)試驗用液壓振動臺