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DX-pct-350帶鎖門設(shè)計(jì) PCT 高壓老化試驗(yàn)箱
帶鎖門設(shè)計(jì) PCT 高壓老化試驗(yàn)箱是一種具有安全性和防篡改功能的高壓老化試驗(yàn)箱，專門用于電子產(chǎn)品、汽車零部件、電池等在高壓、高溫、高濕環(huán)境下的加速老化測試。其“帶鎖門設(shè)計(jì)”功能是為了確保在試驗(yàn)過程中，操作人員的安全以及避免未經(jīng)授權(quán)的人員進(jìn)入試驗(yàn)室，以防止試驗(yàn)過程中的意外事故或數(shù)據(jù)泄露。
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更新日期
2025-11-06
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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710
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DX-pct-350物聯(lián)網(wǎng) PCT 高壓老化試驗(yàn)箱
物聯(lián)網(wǎng) PCT 高壓老化試驗(yàn)箱是一種結(jié)合了物聯(lián)網(wǎng)（IoT）技術(shù)的高壓老化試驗(yàn)箱。PCT（Pressure Cooker Test）試驗(yàn)箱主要用于加速測試電子產(chǎn)品、組件或材料在高溫、高濕、高壓環(huán)境下的老化過程。物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的集成，使得試驗(yàn)箱不僅能夠進(jìn)行傳統(tǒng)的高壓老化測試，還能實(shí)現(xiàn)智能化、遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)分析和自動(dòng)化管理，提高測試效率與數(shù)據(jù)的可追溯性。
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更新日期
2025-11-06
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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DX-pct-350試驗(yàn)數(shù)據(jù)可追溯 PCT 高壓老化試驗(yàn)箱
試驗(yàn)數(shù)據(jù)可追溯 PCT 高壓老化試驗(yàn)箱是一種具備高精度數(shù)據(jù)記錄和存儲功能的試驗(yàn)設(shè)備，專門用于對電子元件、光伏組件、半導(dǎo)體等產(chǎn)品進(jìn)行高溫、高濕、高壓條件下的老化測試。該設(shè)備不僅能夠滿足高壓蒸汽加速老化的需求，還通過完善的 數(shù)據(jù)采集、記錄和存儲 系統(tǒng)，使試驗(yàn)過程中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)能夠準(zhǔn)確、實(shí)時(shí)、長期保存，保證數(shù)據(jù)的 可追溯性，方便后續(xù)的分析、審核、驗(yàn)證及質(zhì)量控制。
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更新日期
2025-11-06
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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DX-pct-350定制服務(wù) PCT 高壓老化試驗(yàn)箱
定制服務(wù) PCT 高壓老化試驗(yàn)箱指的是根據(jù)客戶特定需求，針對產(chǎn)品的不同測試要求，定制設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的高壓老化試驗(yàn)設(shè)備。PCT（Pressure Cooker Test，高壓蒸汽加速老化試驗(yàn)）高壓老化試驗(yàn)箱，主要用于加速老化過程，以測試材料、電子元件或產(chǎn)品在高溫、高濕、高壓環(huán)境下的耐久性，常用于光伏、電子、半導(dǎo)體等行業(yè)。通過定制服務(wù)，客戶可以根據(jù)具體應(yīng)用場景的需求，獲取更符合要求的試驗(yàn)箱設(shè)備。
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更新日期
2025-11-06
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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DX-pct-350單晶硅 PCT 高壓老化試驗(yàn)箱
單晶硅 PCT 高壓老化試驗(yàn)箱（Pressure Cooker Test, PCT）是一種用于測試單晶硅或其他電子元件在高溫、高濕和高壓環(huán)境下的可靠性與耐久性的設(shè)備。這類試驗(yàn)箱通常用于模擬長期使用中可能遭遇的嚴(yán)酷環(huán)境，以評估材料和產(chǎn)品在高濕、高溫及高壓條件下的老化過程，特別是在光伏行業(yè)中，用來測試太陽能電池的耐用性。
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更新日期
2025-11-06
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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2025-06-10
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